手動C成像掃查器SCQcscan－1掃查器可以實現帶有位置信息反饋的XY兩軸自由滑移運動，可以配套帶有兩編碼器接口的超聲儀器使用，配合不同探頭適用于用于平板類金屬、復合材料接觸式C成像探傷。XY兩軸分辨率可選，Z高為0.1mm/step。根據需要可以選擇磁性或者真空吸附的底座以適應不同材料需要。該掃查器配合本公司的CTS-1008plus儀器、CTS-04PC超聲卡可形成完整的超聲成像檢測系統。

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